JIS B1186 ERRATUM 1-2007 勘误表

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【英文标准名称】:ERRATUM
【原文标准名称】:勘误表
【标准号】:JISB1186ERRATUM1-2007
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:2007-08-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:J13
【国际标准分类号】:
【页数】:1P.;A4
【正文语种】:日语


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【英文标准名称】:InterpretationsVolume49-SectionXI
【原文标准名称】:说明.第49卷.第XI节
【标准号】:ASMESECXIINTVOL49-2001
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2001-12-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国机械工程师协会(US-ASME)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:BoilerandPressureVessels.InterpretationsVolume49-SectionXI
【中国标准分类号】:F69
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part27:Electrostaticdischarge(ESD)sensitivitytesting-Machinemodel(MM)
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第27部分:静电放电(ESD)灵敏度测试.机器模型(MM)
【标准号】:IEC60749-27-2006
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2006-07
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:大气压;温度变化;分类;分类系统;气候;气候试验;组件;定义;尺寸;放电;电气元件;电气工程;电学测量;电子工程;电子设备及元件;静电的;静电放电;静电学;环境;环境试验;易燃性;热学;脉冲负载能力;集成电路;机器;测量设备;机械试验;模型;潮气;耐力;半导体器件;半导体;灵敏度;模拟;温度;试验;试验装置;外观检查(试验)
【英文主题词】:Atmosphericpressure;Changesoftemperature;Classification;Classificationsystems;Climate;Climatictests;Components;Definitions;Dimensions;Discharge;Electricalcomponents;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Electrostatic;Electrostaticdischarges;Electrostatics;Environment;Environmentaltesting;Environmentaltests;Flammability;Heat;Impulseloadability;Integratedcircuits;Machines;Measuringequipment;Mechanicaltesting;Models;Moisture;Resistance;Semiconductordevices;Semiconductors;Sensitivity;Simulation;Temperature;Testing;Testingdevices;Visualinspection(testing)
【摘要】:ThispartofIEC60749establishesastandardprocedurefortestingandclassifyingsemiconductordevicesaccordingtotheirsusceptibilitytodamageordegradationbyexposuretoadefinedmachinemodel(MM)electrostaticdischarge(ESD).ItmaybeusedasanalternativetestmethodtothehumanbodymodelESDtestmethod.Theobjectiveistoprovidereliable,repeatableESDtestresultssothataccurateclassificationscanbeperformed.Thistestmethodisapplicabletoallsemiconductordevicesandisclassifiedasdestructive.ESDtestingofsemiconductordevicesisselectedfromthistestmethod,thehumanbodymodel(HBM–seeIEC60749-26)orothertestmethodsintheIEC60749series.TheMMandHBMtestmethodsproducesimilarbutnotidenticalresults.Unlessotherwisespecified,theHBMtestmethodistheoneselected.NOTE1Thistestmethoddoesnottrulysimulatedischargefromrealmachinesormetallictoolsbecausethetestmethoduseshighparasiticinductanceofthetestcircuit,whereasrealmachinesandmetallictools,whosedischargerisetimeisapproximately100ps,havenoinductance.NOTE2CertainclausesinthistestmethodareinaccordancewithIEC61340-3-2.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:25P.;A4
【正文语种】:英语